Wie wählen Sie die beste Testabdeckungsmetrik für Ihr IC-Design aus?

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Das Testen ist eine entscheidende Phase beim Design integrierter Schaltkreise, da es die Qualität, Zuverlässigkeit und Funktionalität des Endprodukts sicherstellt. Das Testen kann jedoch auch zeitaufwändig, kostspielig und komplex sein, insbesondere bei großen und anspruchsvollen ICs. Daher ist die Auswahl der besten Testabdeckungsmetrik für Ihr IC-Design eine wichtige Entscheidung, die sich auf Ihre Testeffizienz und -effektivität auswirken kann. In diesem Artikel erklären wir, was Testabdeckungsmetriken sind, warum sie wichtig sind und wie Sie die am besten geeignete für Ihr IC-Design auswählen.

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